檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "電子工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="製程變異"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
隨著製程演進,電晶體 的尺寸越縮越小,積體電路的效能受製程變異的影響越趨明顯。以最受認可的 Pelgrom 模型為例,元件面積越小所會遭遇的隨機誤配越大,將使晶片的效能劣化。設計者不能再專注於電路改…
2
回顧過去,類比積體電路的論文側重設計而非佈局。即便在積體電路佈局論文中,主要的研發重點在於創新關鍵元件的佈局模式,以減少系統不匹配的衝擊進而提高積體電路的良率。只有非常少數的論文著重在關鍵元件的面積…