簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "電子工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="製程變異"


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    以權重式元件面積配置為基礎來優化並實現關鍵比率之類比積體電路
    • /104/ 碩士
    • 研究生: 周平利 指導教授: 陳伯奇
    • 隨著製程演進,電晶體 的尺寸越縮越小,積體電路的效能受製程變異的影響越趨明顯。以最受認可的 Pelgrom 模型為例,元件面積越小所會遭遇的隨機誤配越大,將使晶片的效能劣化。設計者不能再專注於電路改…
    • 點閱:273下載:8

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    可獲取接近最佳良率以整體非線性誤差為計算基礎之積體電路權重式元件面積配置
    • /101/ 碩士
    • 研究生: 阿威 指導教授: 陳伯奇
    • 回顧過去,類比積體電路的論文側重設計而非佈局。即便在積體電路佈局論文中,主要的研發重點在於創新關鍵元件的佈局模式,以減少系統不匹配的衝擊進而提高積體電路的良率。只有非常少數的論文著重在關鍵元件的面積…
    • 點閱:231下載:3
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